用于探測(cè)蒙皮疊邊中裂紋的檢測(cè)方案利用*先進(jìn)的ECA技術(shù)探測(cè)材料表面以下的缺陷。C掃描的應(yīng)用可保證更高的探出率及更好的再現(xiàn)性。在減少檢測(cè)時(shí)間方面，這個(gè)解決方案可謂是一個(gè)巨大的進(jìn)步。
